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澤攸科技亮相第十三屆納博會

日期:2023-03-02

三月一日至三日,澤攸科技攜完全自主研制的材料表征測量及半導體加工設備,應邀出席第十三屆國際納米技術產業博覽會(以下簡稱納博會)。

納博會作為中國納米技術交流盛會,聚焦微納制造、第三代半導體、納米新材料、納米壓印等熱門領域。納博會擁推出11場專業論壇、344場行業報告,推動中國納米技術產業蓬勃發展。

澤攸科技亮相第十三屆納博會

納博會607號展位

澤攸科技亮相第十三屆納博會

納博會展會現場

澤攸科技(ZEPTOOLS)攜完全自主研制的材料表征測量及半導體加工設備參加此次盛會,展示了我們的產品,諸如ZEM系列臺式掃描電鏡、JS系列臺階儀、探針臺、壓電驅動納米位移臺、等離子體增強化學氣相沉積系統等先進設備產品等,得到了業內人士的一致肯定與贊揚。

ZEM系列臺式掃描電鏡

ZEM系列臺式掃描電鏡

澤攸科技(ZEPTOOLS)在納米技術行業的優勢地位,源于20余年的技術積累,以及一支專業的研發與生產團隊。公司現有安徽、北京、東莞和上海四個子公司及各地若干辦事處,我們在提升技術的同時,也在做大做強,實現規模化生產。

歡迎前來納博會607號展位交流指導,希望更多的伯樂能夠通過納博會認識澤攸科技,讓澤攸科技與您共同探索精彩微觀世界。

以上內容為安徽澤攸科技有限公司介紹。如果想要了解更多產品信息請您咨詢15756003283(微信同號)

掃描電鏡產品聯系方式


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作者:澤攸科技